FLASH存储技术颠覆了传统机械硬盘磁记录原理,目前U盘,存储卡SD固态硬盘SSD均采用FLAS存储技术。其包含电源处理芯片接口管理和数据处理芯片和数据存储芯片三大部分,简单故障的恢复数据恢复也许就是维修电源转换电路或更换晶振能够解决。但不断更新发展的存储技术集成度已变的更高,碟科数据恢复专家提醒能有效恢复数据已经不是简单维修或量产就能够解决问题。
一.传统U盘或存储卡结构与恢复
U盘储存卡拆解后外观
拆开后U盘主要由 存储芯片和读写控制芯片和电流元件等组成,因控制芯片和电流元件常坏,恢复时将存储芯片拆出放恢复工具是直接读取编码,软件分析解码。
二.COB一体U盘数据恢复
外观,芯片不可拆
优点:集成高 小巧,防水 制造成本低
劣势:薄 易拆断,散热性相比传统要差,集成芯片易坏数据恢复成功率低。
数据恢复处理原理:表面PCB板绝缘漆膜和环氧树脂固化封装,通常是不能无损拆解的,封装在里面的有主要分两个物理部分的功能芯片,一个是存储控制芯片,一个是存储数据的存储芯片,生产封装好在量产前厂商可用测试针对表面内部(不公开)定义的测试点进行存储晶圆的测试。
去除表面的绝缘漆膜,会暴露出测试点。
终极恢复:
因U盘整体较薄,当受力测试点和存储芯片晶圆间的联接金线断掉,那唯一的恢复方法就是解封表面的封装材料,但想芯片无损解封表面材料那是很难做到的,需要特殊试剂结合物理显微操作才能解决的。
但如果是存储晶圆破裂或损坏那数据也就无力回天了。